半導體測試系統
半導體測試系統(STS)將行業標準的PXI平臺帶到了量產的集成電路自動測試機(ATE)產品中,該產品可進行擴展以滿足不斷變化的測試需求,也可以簡化以滿足有限的預算需求。利用最新的高性能PXI儀器,如1 GHz帶寬矢量信號收發器(VST),在滿足半導體生產環境的所有操作需求的同時,對射頻和混合信號IC執行高要求的測量。
STS有三種尺寸:T1、T2和T4,分別容納一個、兩個和四個18插槽的PXI機箱。所有測試系統都支持通用接口設計和可互換設備接口板,因此,您可以擴展系統來滿足生產的引腳數 和 site 數要求,還可簡化系統來滿足特性分析需求。
特點:STS提供的測試框架不僅可以滿足如今的生產測試需求,而且其靈活性可通過使用最新的PXI儀器來升級或增強關鍵組件,添加新的測試功能。這樣即使技術經歷多次升級換代,您的測試系統仍能夠高效地適應不斷變化的要求。
主要優勢:
- 全面的RF、數字和直流儀器產品組合—您可以自定義新的STS配置并升級現有測試系統,以納入您需要的儀器資源,同時保持測試程序和負載板的可移植性。
- 統一的軟件體驗—STS提供了標準的軟件來開發、調試和部署multisite測試程序,包括引腳/通道匹配圖、測試閾值導入/導出、binning和STDF報告。
- 現成的測試代碼—使用拖放式軟件模板來完成常見的半導體測試任務,比如連續性檢查、泄漏測試或數字pattern載入,或者RF波形生成或采集以測試5G NR等最新無線標準。
- Test Cell集成—標準docking和連接設施可允許與manipulator以及芯片handler無縫集成來進行封裝測試,也可與晶圓探針臺集成進行晶圓測試。
- 系統校準—可對系統級數字和直流資源(比如彈簧探頭接口等)和直流資源(比如RF盲插等)進行現場校準,并可選擇使用矢量反嵌文件來校準DUT。
- 服務和支持—工程服務、bring-up服務、培訓和技術支持均可幫助您快速設置和啟動系統。
