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半導(dǎo)體與器件

隨著新能源汽車、高速鐵路、高速光電傳感器、大功率照明設(shè)備的不斷發(fā)展,使用的半導(dǎo)體器件功率越來(lái)越大,電壓和電流的增大為測(cè)試帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。 優(yōu)秀的大功率器件測(cè)試過程中,需要更高精度、更強(qiáng)性能的儀器來(lái)確保測(cè)試參數(shù)的精確性。

隨著新能源汽車、高速鐵路、高速光電傳感器、大功率照明設(shè)備的不斷發(fā)展,使用的半導(dǎo)體器件功率越來(lái)越大,電壓和電流的增大為測(cè)試帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。
優(yōu)秀的大功率器件測(cè)試過程中,需要更高精度、更強(qiáng)性能的儀器來(lái)確保測(cè)試參數(shù)的精確性。

主要測(cè)試參數(shù):

  • Double Pulse Test
    td(on)/td(off)/tr/ton/toff/e(on)/e(off)/…
  • Switching Characteristics
    Id vs. t/Vds vs. t/Vgs vs. t/Ig vs. t/…
  • Reverse Recovery
    trr/Qrr/Err/Irr/Id vs. t
  • Gate Charge
    Qg/Qgs(pl)/Qgd/Vgs vs. t
集成電路1.jpg
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在半導(dǎo)體中,故障一般可分為早期故障、隨即故障和磨損故障。

1.早期故障發(fā)生在設(shè)備運(yùn)行的初始階段。早期故障的發(fā)生率隨著時(shí)間的推移而降低
2.隨即故障發(fā)生的時(shí)間較長(zhǎng),且故障發(fā)生率被發(fā)現(xiàn)是恒定的
3.磨損故障是隨著器件壽命結(jié)束時(shí)會(huì)出現(xiàn)的故障,隨著器件壽命的耗盡,故障會(huì)大幅增加

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優(yōu)勢(shì):STS提供了靈活的生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái),不僅能夠進(jìn)行擴(kuò)展來(lái)滿足不斷擴(kuò)大的生產(chǎn)量需求,也能進(jìn)行簡(jiǎn)化來(lái)滿足有限的預(yù)算需求,可滿足基于微控制器的物聯(lián)網(wǎng)半導(dǎo)體器件的需求,支持藍(lán)牙LE、NB-IoT、WiFi和ZigBee等通信標(biāo)準(zhǔn)。

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